大多数电子产业使用的纳米粒子都存在于流体溶液中，且也被允许可处于干燥状态。常用的透射电子显微镜（TEM）可在纳米粒子干燥后为其成像，但是干燥的流体往往会扭曲纳米粒子的结构，而校正结构的过程通常相当复杂，一个设计完成在之前，须经过反覆多次的试验